Product Demonstration
符合标准:
AEC-Q100，MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准。
适用范围:
适用于各种封装数字、模拟、数模混合电路进行高温动态老化试验。
技术特点:
一板一区，可满足多种不同试验参数的器件同时老化。
完善的、种类齐全的老化器件数据库可供用户调用。
64路回检信号，可设置回检通道信号出错依据，并判断该通道信号是否正常。
