杭州高裕电子科技有限公司

产品展示

Product Demonstration

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IGBT模块功率循环老化测试系统

符合标准:

IEC60749 、AQG324 等试验标准。

适用范围:

适用于各种封装形式的大功率IGBT模块、二极管模块的功率循环试验。

技术特点:

严格满足△Tj≥100℃。 

可实现秒级和分钟级循环试验。

检测显示每次循环的△Tj。


技术性能

表格 p32.png